|유양모 교수 연구실
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·
인용수 15
·2023
A system-on-chip solution for deep learning-based automatic fetal biometric measurement
Hyunwoo Cho, Dong‐Ju Kim, Sunyeob Chang, Jinbum Kang, Yangmo Yoo
IF 7.5 (2023) Expert Systems with Applications
키워드
BiometricsComputer scienceArtificial intelligenceSegmentationBiparietal diameterSørensen–Dice coefficientDeep learningFetal headComputer visionPattern recognition (psychology)
타입
Article
IF / 인용수
7.5 / 15
원문
https://doi.org/10.1016/j.eswa.2023.121482
게재 연도
2023