(주)지니틱스
칩의 테스트 방법
Method for testing a chip
특허 요약
칩이 테스트 장치(로부터 제1주소에 대한 읽기 명령을 수신하는 단계, 상기 칩의 레지스터 중 제1레지스터의 값이 미리 결정된 값인지 여부를 판단하는 단계, 상기 제1레지스터의 값이 상기 미리 결정된 값인 경우에는 상기 칩의 레지스터 중 제2레지스터의 값이 상기 제1주소의 값과 동일한지 여부를 판단하는 단계, 및 상기 제2레지스터의 값이 상기 제1주소의 값과 동일한 경우에는 상기 칩의 레지스터 중 제3레지스터의 값을 상기 테스트 장치에게 반환하는 단계를 포함하는 칩 테스트 실행방법이 공개된다.
청구항
번호청구항
1

칩(1)이, 테스트 장치(2)로부터 제1주소에 대한 읽기 명령을 수신하는 제1단계;상기 칩이, 상기 칩의 레지스터 중 제1레지스터의 값이 미리 결정된 값인지 여부를 판단하는 제2단계;상기 제1레지스터의 값이 상기 미리 결정된 값인 경우에는, 상기 칩이, 상기 칩의 레지스터 중 제2레지스터의 값이 상기 제1주소의 값과 동일한지 여부를 판단하는 제3단계; 및상기 제2레지스터의 값이 상기 제1주소의 값과 동일한 경우에는, 상기 칩이, 상기 칩의 레지스터 중 제3레지스터의 값을 상기 테스트 장치(2)에게 반환하는 제4단계;를 포함하는,칩 테스트 실행방법.