특허 요약
본 발명의 일 실시예에 따른 표면 증강 라만 분광학 신호 분석을 위한 검출 자동화 시스템은, 광학현미경에 기계적으로 결합되어 상기 광학현미경에 광학계 조건 변경을 소프트웨어적으로 수행하는 현미경 조작부; 상기 광학현미경에 장착된 시료의 검출 위치를 자동으로 이동시키는 검출위치 조정부; 및 상기 현미경 조작부 및 상기 검출위치 조정부와 연동하여 검출과정을 자동화하여 수행하는 검출 자동화 소프트웨어가 탑재된 프로세싱 장치를 포함할 수 있다.