특허 요약
본 발명은 플랫패널용 광관련판요소로부터 영상을 획득하여 영상처리를 통해 불량을 검출함에 있어, 정형성 얼룩을 자동으로 검출할 수 있는 방법을 제공한다. 그 정형성 얼룩 검출방법은, 입력된 영상 내부의 전체적으로 나타나는 비선형적 휘도변화에 따른 오검출을 보정하기 위해 선형성이 보장되는 크기의 다수의 매크로 블록으로 분할하고, 분할된 각 매크로 블록 내부의 화소값들이 가지는 x축, y축 방향의 선형적 휘도변화를 제거하는 이미지 평활화 단계; 및 평활화된 영상을 기설정된 상하의 임계값과 비교하여 그 범위밖인 때에 비정상 화소로 판별하고, 그 비정상화소가 적어도 2개이상 군집되어 있는 비정상 화소들은 얼룩으로 판별하는 얼룩판별단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.