특허 요약
본 발명은 알고리즘을 이용을 자동으로 검출하기 위한 플랫패널용 광관련판요소의 라인결함 검출방법을 제공한다. 그 라인결함 검출방법에 있어서: 라인결함의 검출을 위해서 수평방향과 수직방향 각각에 대해 입력영상을 몇 개의 세그먼트(segment)로 분할하는 단계; 각 세그먼트 내부에서 각각의 라인의 평균을 구하는 단계; 해당 라인에 속하는 화소값을 상기 구해진 평균값으로 대치하는 단계; 그 대치된 평균값들에 의한 영상에 있어서 라인 형태의 패턴의 주기는 셀간 주기로 하고, 특정 라인의 화소값(f diff (x,y))은, 수직라인 또는 수평라인에 따라 좌우 또는 상하로 1주기만큼 떨어진 라인의 화소값과의 차이로 디퍼런스 영상을 산정하여 패턴을 제거하는 단계; 각 세그먼트별로 기설정된 상하의 임계값과 비교하여 그 범위밖일 때에 비정상 라인으로 판별하는 라인불량판별단계; 그리고, 상기 라인불량판별단계에서 검출된 라인결함들이 각각의 주기와 동일한 간격으로 존재하는 경우에 그 라인결함이 있는 위치에서 주기의 배수만큼 떨어진 곳 중 결함이 아닌 가장 가까운 픽셀과 라인결함이 있는 픽셀 값의 차를 구하여 라인 프로젝션을 한 결과, 구한 프로젝션 값의 절대값을 비교하여 큰 것과 작은 것의 차이가 일정 수준보다 크면 프로젝션 값의 절대값이 작은 것은 고스트로 판단하고 제거하는 고스트제거단계를 포함하는 것을 특징으로 ...(이하생략)
청구항
번호청구항