본 발명은 고해상도로 영상을 획득하여 영상처리를 통해 불량을 검출함에 있어, 획득한 영상으로부터 주기적으로 반복되는 RGB 등의 패턴을 제거함으로써 효율적으로 불량을 검출할 수 있는 플랫패널용 광관련판요소의 결함검출방법을 제공한다. 그 결함검출방법은, 고해상도로 영상을 획득하여 영상처리를 통해 불량을 검출함에 있어, 획득된 영상상에서 나타나는 패턴의 주기( Tx,Ty )를 가로, 세로 독립적으로 구한 후, x축 및 y축상에서 상기 구해진 주기(또는 그 정수배)만큼 떨어져 있는 화소값과의 차이( f(x-Tx,y),f(x,y-Ty) )를 이용해서 특정 위치의 화소값( f diff (x,y) )을 결정함으로써 원영상으로부터 주기적으로 반복되는 패턴을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.