| 번호 | 청구항 |
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| 3 | 제 2 항에 있어서,상기 이진화에 의해 상기 전자현미경 이미지의 배경 노이즈가 보정되는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 4 | 제 1 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지를 처리하는 것은, 상기 전자현미경 이미지의 노이즈를 제거하는 것과상기 전자현미경 이미지의 에지 콘트라스트를 증가시키는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 5 | 제 4 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지의 노이즈를 제거하는 것은 비너 필터 및 가우시안 필터를 사용하여 수행되고, 상기 전자현미경 이미지의 에지 콘트라스트를 증가시키는 것은 라프라시안 필터를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 1 | 전자현미경 이미지를 획득하는 단계;상기 전자현미경 이미지를 처리하여 이진화 이미지를 형성하는 단계; 및상기 이진화 이미지를 분석하는 단계를 포함하고,상기 전자현미경 이미지는 나노입자 이미지를 포함하고,상기 이진화 이미지를 분석하는 단계는, 상기 나노입자의 성장을 유착이 있는 성장과 유착이 없는 성장으로 분류하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 2 | 제 1 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지는 적응형 이진화 알고리즘을 이용하여 적응형 이진화로 이진화되는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 6 | 제 4 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지를 처리하는 것은, 감마보정을 사용하여 상기 전자현미경 이미지의 감마값을 조정하는 것을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 7 | 제 1 항에 있어서,상기 이진화 이미지는 컴퓨터를 이용하여 분석되는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 8 | 제 1 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지는 나노입자 이미지를 포함하고,상기 이진화 이미지를 분석하는 것은, 상기 나노입자의 크기와 위치를 분석하는 것과상기 나노입자의 성장 속도를 분석하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 9 | 제 8 항에 있어서,상기 나노입자의 크기와 위치는 앙상블 분석법을 이용하여 분석되는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
| 10 | 제 1 항에 있어서,상기 전자현미경 이미지는 액상 투과전자현미경 이미지를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자현미경 이미지 분석 방법. |
