| 번호 | 청구항 |
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| 1 | 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자에 있어서,상기 저역통과필터 소자는반도체 기판;상기 반도체 기판 상에 형성된 채널층;상기 채널층 상부에 형성된 전해질층; 및상기 전해질층 상부에 형성되고, 상기 채널층과 동일한 물질을 포함하는 이온 저장층을 포함하며, 상기 저역통과필터 소자는 저항(Resistor)과 커패시터(Capacitor)로 구성되며, 입력신호가 상기 저항 및 커패시터의 조합을 거쳐 특정 주파수 이상의 신호는 출력하지 않는 필터링을 수행하는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
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| 3 | 제1 항에 있어서, 상기 채널층은 상기 커패시터 일단의 전극으로 사용되며, 상기 이온 저장층은 상기 커패시터의 타단의 전극으로 사용되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
| 4 | 제1 항에 있어서, 상기 채널층 양단에 소스 전극 및 드레인 전극이 연결되고, 상기 이온 저장층 상부에 게이트 전극 연결되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
| 5 | 제4 항에 있어서, 상기 저역통과필터 소자는 복수의 동작 상태를 포함하고,상기 복수의 동작 상태들 중 하나는상기 게이트 전극을 접지시키고 상기 채널층 양단의 소스 전극 및 드레인 전극에 전압을 인가하여 채널층의 컨덕턴스를 확인하는 읽기 동작; 및상기 게이트 전극에 전압 또는 전류를 인가하여 상기 채널층 내 이온의 움직임을 유도하여 컨덕턴스를 변화시키는 쓰기 동작에 해당하는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
| 6 | 제5 항에 있어서, 상기 저역통과필터 소자는상기 읽기 동작 수행 시 시간에 따른 채널 컨덕턴스가 감소하도록 설계하는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
| 7 | 제1 항에 있어서,상기 이온 저장층은 상기 채널층과 동일한 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |
| 8 | 제1 항에 있어서,상기 이온 저장층은 텅스텐 (W)을 포함하는 다가물질 (multivalent material)을 기반으로 한 산화물 (oxide)로 형성된 것을 특징으로 하는 전기화학적 메모리 기반의 저역통과필터 소자. |