전극에 대한 접촉저항이 개선된 박막트랜지스터
THIN FILM TRANSISTOR IMPROVED CONTACT RESISTANCE TO ELECTRODE
특허 요약
박막트랜지스터를 제공한다. 상기 박막트랜지스터는 게이트 전극 상기 게이트 전극과 중첩하는 반도체 패턴, 상기 게이트 전극과 상기 반도체 패턴 사이에 배치된 게이트 절연막, 및 상기 반도체 패턴에 접속하는 소오스/드레인 전극들을 포함한다. 상기 반도체 패턴은 소오스/드레인 전극들과 각각 중첩된 소오스/드레인 영역들 및 상기 소오스/드레인 영역들 사이에 배치된 채널 영역을 구비한다. 상기 소오스/드레인 영역들 중 적어도 어느 하나의 영역은 상기 반도체 패턴이 리세스된 컨택홀을 구비하고, 상기 컨택홀을 포함하는 소오스/드레인 영역 상에 위치한 상기 소오스/드레인 전극은 상기 컨택홀을 채우고 상기 컨택홀 주변의 반도체 패턴 상으로 연장된다.
청구항
번호청구항
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기판 상에 차례로 제1 소오스/드레인 전극, 제1 층간 절연막, 게이트 전극, 및 제2 층간 절연막이 배치되되, 상기 제1 층간 절연막, 상기 게이트 전극, 및 상기 제2 층간 절연막은 상기 제1 층간 절연막, 상기 게이트 전극, 및 상기 제2 층간 절연막을 관통하여 상기 제1 소오스/드레인 전극의 상부 일부분을 노출시키는 트렌치를 구비하고;상기 트렌치의 측벽 상에 게이트 절연막이 배치되되 상기 트렌치의 바닥면에는 상기 게이트 절연막 사이에 상기 제1 소오스/드레인 전극이 노출되고, 상기 게이트 절연막이 배치된 트렌치의 측벽 및 상기 트렌치의 바닥면 상에 배치되어 상기 제1 소오스/드레인 전극에 접속하고 상기 트렌치 주변부로 연장된 반도체 패턴; 상기 트렌치 주변부로 연장된 반도체 패턴 상에 이에 접속하는 제2 소오스/드레인 전극이 배치되어, 상기 반도체 패턴은 상기 제1 소오스/드레인 전극에 중첩된 제1 소오스/드레인 영역, 상기 제2 소오스/드레인 전극에 중첩된 제2 소오스/드레인 영역, 및 상기 소오스/드레인 영역들 사이에 배치된 채널 영역을 구비하고, 상기 제2 소오스/드레인 영역은 상기 반도체 패턴이 리세스된 컨택홀을 구비하고, 상기 제2 소오스/드레인 전극은 상기 컨택홀을 채우고 상기 컨택홀 주변의 반도체 패턴 상으로 연장되고,상기 컨택홀은 상기 제2 소오스/드레인 영역에 3개 이상 형성된 박막트랜지스터.

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청구항 13에 있어서,상기 컨택홀은 직사각형 혹은 둥근 코너를 갖는 사각형인 박막트랜지스터.

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청구항 13에 있어서,상기 컨택홀은 상기 반도체 패턴을 관통하는 형태를 갖는 박막트랜지스터.

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청구항 13에 있어서,상기 컨택홀은 바닥면에 상기 반도체 패턴이 잔존하도록 형성된 박막트랜지스터.

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청구항 13에 있어서,상기 반도체 패턴은 금속 산화물 반도체 패턴인 박막트랜지스터.