본 과제는 플랙서블 기기에 적용 가능한 유연 저항메모리의 성능·신뢰성·유연성 평가를 표준화하기 위한 연구임.
연구 목표는 IEC TC 47 Semiconductor devices, IEC TC 124에서 규격 제정/제안/등록과 국제표준화 활동을 수행하는 데 있음. 핵심 연구 내용은 유연 저항메모리의 저항변화 특성 기반 성능 확정, 유연성 시험·신뢰성 시험 검증, back-up data 실험과 표준 문서 수정 지원 및 CDV 제안 대응, IEC 회의 참석 및 국내 전문위원회 운영임. 기대 효과는 선표준 후기술 개발 기반 확보, 국제표준 선점과 기술개발·제품화 시간 단축, 평가 기술·장비 시장 확대임.