정종필 교수 연구실
HICSS-57
From Scarcity to Abundance:Expansion Manufacturing Data through Limited Defect Images
구분
국외
국가
미국
컨퍼런스명
HICSS-57
발표 제목
From Scarcity to Abundance:Expansion Manufacturing Data through Limited Defect Images
기관명
University of Hawaii
참여 연도
2024
상세 설명
University of Hawaii