안지훈 교수 연구실
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DRAM 커패시터용 고유전율·강유전 초극박막 및 계면 공정 연구

High-k and Ferroelectric Ultrathin Dielectrics for DRAM Capacitors and Interface Engineering

연구 내용

초극박막에서 유전율과 누설 특성을 동시에 확보하기 위해 고유전율 소재와 강유전 초극박막 공정을 개발하고, 전극·유전체 어셈블리와 계면/결정화를 제어해 3D DRAM 집적 성능을 향상하는 연구

DRAM 커패시터에서 박막화가 진행될수록 전기적 누설과 계면 열화가 성능을 제한합니다. 본 연구는 원자층 증착 기반으로 고유전율 초극박막 소재를 합성하고, 강유전 특성을 유지하면서 결정화도와 계면 상태를 함께 제어하는 방향으로 공정을 설계합니다. HfO2/ZrO2 기반 다층 구조에서 도핑에 따른 구조·전기 특성 변화를 평가하며, TiN 상에서 SnO2를 도입해 후열처리 없이 rutile TiO2 박막을 구현하는 전략을 적용합니다. 또한 TiO2의 conductive-like 거동 가능성을 DRAM 커패시터 관점에서 검증해 전극/유전체 스택의 누설 저감과 유효 축전 특성 확보를 목표로 합니다.

관련 연구 성과

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연구 흐름

초기에는 3D DRAM을 위한 초극박막 고유전율 소재와 커패시터 집적 공정의 틀을 마련하는 데 집중했습니다. 이후 강유전 초극박막 특성을 확보하기 위해 소재-공정 조합을 통해 결정화도와 두께 민감도를 동시에 다루는 연구로 확장했습니다. 최근에는 전극/유전체 어셈블리 설계 관점에서 비귀금속 메탈 기반 페로브스카이트 전극-유전체 조합을 검토하고, 도핑된 HfO2/ZrO2 다층 구조와 SnO2 도입형 TiO2 형성처럼 계면 안정성과 상 제어를 구체화했습니다. 나아가 DRAM 커패시터에서 TiO2의 유사 도전층 가능성을 평가하는 단계로 심화하고 있습니다.

활용 가능성

활용 가능성은 알앤디써클 특화 AI 에이전트가 생성한 내용으로, 실제 연구 가능 여부는 연구실과의 논의가 필요합니다.

  • 3D DRAM용 고유전율 초극박막
  • 강유전 기반 초미세 커패시터 소자
  • 전극/유전체 계면 저누설 설계
  • 도핑 제어 고-k 박막 공정
  • 후열처리 저감형 유전체 형성
  • 비귀금속 기반 페로브스카이트 어셈블리
  • DRAM 누설 전류 저감 공정
  • 유효 산화막 환산 두께 개선
  • 스택형 커패시터 제조 공정
  • 고집적 메모리용 공정 호환 소재

관련 논문

구분

제목

1

Effect of Al doping on structural and electrical properties of HfO2/ZrO2 layered structures for high-k applications

2

Implementation of rutile-TiO2 thin films on TiN without post-annealing through introduction of SnO2 and its improved electrical properties

3

Investigating potential use of TiO2 as conductive-like layer in DRAM capacitors

관련 프로젝트

구분

제목

1

유전율 100이상의 초극박막 소재 및 3D DRAM 향 커패시터 집적 공정 개발

2

Non-noble 메탈 소재 기반 페로브스카이트 전극/유전체 어셈블리 개발

3

1 nm 두께의 강유전 초극박막 특성 구현을 위한 소재 및 공정 개발

4

1 nm 두께의 강유전 초극박막 특성 구현을 위한 소재 및 공정 개발

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