신동수 교수 연구실
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논문
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인용수 1
·2026
Impact of sidewall passivation on reliability in InGaN-based micro-LEDs
Tae Kyoung Kim, Abu Bashar Mohammad Hamidul Islam, Jongil Kim, Hyeondong Lee, Minji KIM, J. W. Bae, June-O Song, Dong‐Soo Shin, J C Shim, Sang Ho Oh, Joon Seop Kwak
IF 6 (2026) Advanced Photonics Nexus
키워드
Reliability (semiconductor)Passivation
타입
article
IF / 인용수
6 / 1
원문
https://doi.org/10.1117/1.apn.5.1.016014
게재 연도
2026
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