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·2025
Physical Correlation Between Stochasticity and Process-Induced Damage in Ferroelectric Memory Devices
Ryun‐Han Koo, Seung Whan Kim, Jiseong Im, Sangwoo Ryu, Kangwook Choi, Sungho Park, Jonghyun Ko, Jinchen Ji, Mi‐Hwa Oh, Jangsaeng Kim, Gyuweon Jung, Sung‐Tae Lee, Daewoong Kwon, Wonjun Shin, Jong‐Ho Lee
Research Square
키워드
FerroelectricityProcess (computing)CorrelationPsychologyStatistical physicsComputer scienceMaterials sciencePhysicsMathematicsOptoelectronics
타입
Preprint
IF / 인용수
- / 0
원문
https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-6642967/v1
게재 연도
2025
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