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·2025
Dynamic Pass Bias Control for Temperature-Resilient Neural Networks Using Vertical NAND Flash Memory
Sungho Park, Jiseong Im, Jonghyun Ko, Joon Hwang, Yeongheon Yang, Jong-Won Back, Ryun‐Han Koo, In-Seok Lee, Dongbeen Shin, Mi‐Hwa Oh, Gyuweon Jung, Jong‐Ho Lee
Research Square
키워드
NAND gateFlash (photography)Computer scienceArtificial neural networkFlash memoryControl (management)Computer hardwareArtificial intelligenceAlgorithmLogic gate
타입
Preprint
IF / 인용수
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원문
https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-6798696/v1
게재 연도
2025
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