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·2019
Improved pH reliability of solution-processed In<sub>2</sub>O<sub>3</sub> field-effect transistors via Ga doping and different annealing temperatures
JoonHui Park, Jeongsoo Hong, Kyung Hwan Kim, You Seung Rim
Proceedings of the International Display Workshops
초록

국제 디스플레이 워크숍(International Display Workshops) 제26권(IDW '19)에서, Ga 도핑과 서로 다른 어닐링 온도를 통해 용액 공정으로 제조한 In2O3 박막 트랜지스터의 pH 신뢰성을 향상시켰다.

*본 초록은 AI를 통해 원문을 번역한 내용입니다. 정확한 내용은 하기 원문에서 확인해주세요.

키워드
Annealing (glass)DopingReliability (semiconductor)Materials scienceTransistorAnalytical Chemistry (journal)Field-effect transistorOptoelectronicsChemistryElectrical engineering
타입
Article
IF / 인용수
- / 0
원문
https://doi.org/10.36463/idw.2019.amdp1-22l
게재 연도
2019