우리는 빛 및 상승 온도로 유도된 열화에 대해 단결정 패시베이팅 이미터 리어 콘택트(heterojunction emitter rear contact) 셀의 내구성을 조사하였다. 셀 성능 요인 가운데 단시간 전류 밀도는 단기간에 유의한 감소를 초래한다. 양자 효율 또한 캐리어 재결합 활성 결함의 영향을 받으며, 특히 상업용 셀과 달리 기준 셀은 파장 전반에 걸쳐 양자 효율이 감소한 상태이다. 셀의 전면에는 확산된 수소 분포가 나타나며, 이는 LeTID와 관련이 있다. 우리는 각 공정 동안 수소가 어떻게 변화하는지, 그리고 열화 과정에서 분포 프로파일이 어떻게 변하는지를 관찰하였다. 수소는 실리콘 웨이퍼 내부에서 재분포한 뒤 특정 평형 상태에서 포화되는 것으로 보인다. 수소 분포는 수명 변화 및 최종적으로 단시간 전류 밀도 변화와 상관관계가 있다. 재생은 이미터 내 수소 농도에 따라 일어나며, 포화 상태에 더 가까울수록 열화가 덜 발생한다.

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