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Article
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·
인용수 17
·
2022
Application of optimal clustering and metric learning to patch-based anomaly detection
Jae‐Young Ahn
,
Gyeonghwan Kim
IF 5.1 (2022)
Pattern Recognition Letters
키워드
Cluster analysis
Computer science
Anomaly detection
Metric (unit)
Artificial intelligence
Inference
Pattern recognition (psychology)
Autoencoder
Data mining
Set (abstract data type)
타입
Article
IF / 인용수
5.1 / 17
원문
https://doi.org/10.1016/j.patrec.2022.01.017
게재 연도
2022