|김창수 교수 연구실
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연구 영역
기본 정보
논문·특허
과제
구성원
IEEE VCIP
SEQM: Edge quality assessment based on structural pixel matching
구분
국외
국가
미국
컨퍼런스명
IEEE VCIP
발표 제목
SEQM: Edge quality assessment based on structural pixel matching
기관명
IEEE
참여 연도
-
상세 설명
IEEE