저차원 물질의 발견은 물리학과 재료과학 분야에서 큰 관심을 받아 왔다. 광학 유전율(optical permittivity)은 물질의 전자 구조에 대한 광학적 지문이며, 따라서 물질의 특성을 연구하는 데 있어 중요한 매개변수이다. 분광 타원법(spectroscopic ellipsometry)은 새롭게 발견된 물질의 광학 유전율 스펙트럼을 얻기 위한 빠르고 견고하며 비침습적인 방법을 제공한다. 원자층 수준으로 얇은 저차원 물질은 그 내부에서 수직 방향 광 경로 길이가 극도로 짧기 때문에, 저차원 물질의 분광 타원법은 기존의 타원법(traditional ellipsometry)과 비교하여 독특하다. 여기에서는 2차원(2D) 물질에 대한 분광 타원법의 기본 원리를 소개하고, 최근의 연구 진행 상황을 검토한다. 또한 저차원 물질을 위한 분광 타원법에서의 기술적 과제와 향후 방향에 대해 논의한다.

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