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논문
구성원
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·2019
High Level Leakage Power Modeling based on Static Probability of Primary Inputs
Jonggyu Kim, Joonhwan Yi
Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
초록

문턱 전압이 낮아지고, 칩의 집적도가 높아져서 온도가 증가함에 따라 누설 전력이 크게 증가하고 있다. 본 논문에서는 누설 전력을 상위수준에서 빠르게 분석할 수 있는 누설 전력 모델링 기술을 제안한다. 게이트 입력 값에 따라 누설전력량의 변함을 이용하여 입력의 정적 확률을 기반으로 누설 전력을 예측할 수 있음을 보인다. 또한 복수의 게이트로 이루어진 회로로 이를 확장하여 그 실용성을 증명한다. n-입력 회로의 경우, 2SUPn/SUP개의 계수를 이용하여 누설 전력 모델의 수식이 커지는 문제를 n+1개의 계수만을 이용하는 모델로 유도하는 과정을 설명한다. 또한 모델링시 생성해야 하는 학습 입력 벡터를 일정하게 만드는 법을 제안하여 학습 입력 벡터에 전력 모델의 정확도가 종속되지 않도록 하였다. 실험 결과 전력 모델의 정확도는 평균 98%, 속도 향상은 평균 218배를 보였다.

키워드
Leakage (economics)Primary (astronomy)Leakage powerPower (physics)MathematicsComputer scienceStatisticsPower consumptionPhysicsThermodynamics
타입
article
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게재 연도
2019

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