허영범 교수 연구실
2024년 대한산업공학회 추계학술대회
TripletMatch:Wafer Map Defect Detection Using Semi-Supervised Learning and Triplet Loss with Mixup
구분
국내
국가
대한민국
컨퍼런스명
2024년 대한산업공학회 추계학술대회
발표 제목
TripletMatch:Wafer Map Defect Detection Using Semi-Supervised Learning and Triplet Loss with Mixup
기관명
대한산업공학회
참여 연도
2024
상세 설명
대한산업공학회