Revealing the Loss Mechanism of Chemically-Induced Hot Electron Transport
Yujin Roh, Yeonghoon Jin, Beomjoon Jeon, Yujin Park, Kyoungsik Yu, Jeong Young Park
IF 9.1 (2024) Nano Letters
초록
촉매 나노다이오드의 성능에서 NP(나노입자) 유도 캐리어 손실(carrier losses)의 역할이 검토되었다. 이러한 결과는 뜨거운 전자(hot electron) 검출 효율을 이해하는 데 기여하고, 향상된 뜨거운 캐리어 흐름(hot carrier flow)과 촉매 활성을 갖는 나노다이오드를 설계하는 데 도움이 될 것으로 기대된다.
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키워드
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