연구 영역
기본 정보
논문·특허
과제
구성원
The 33rd Korean Conference on Semiconductors
Characteristics of High-Temperature FET Based Static Random Access Memory
구분
국내
국가
대한민국
컨퍼런스명
The 33rd Korean Conference on Semiconductors
발표 제목
Characteristics of High-Temperature FET Based Static Random Access Memory
기관명
서울대학교, KSIA, COSAR
참여 연도
2026
상세 설명
서울대학교, KSIA, COSAR