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Article|
·
인용수 1
·2025
One-Ferroelectric-Tunnel-FET-Based Reconfigurable Logic Gates
Jae‐Heung Yeom, Minjeong Ryu, Jae Seung Woo, Jin Wook Lee, Seonggeun Kim, Seungwon Go, Sangwan Kim, Woo Young Choi
IF 3.2 (2025) IEEE Transactions on Electron Devices
초록

한 개의 강유전체 터널 전계효과트랜지스터(FeTFET)를 활용하는 새로운 재구성 가능 논리 게이트(RLG)가 최초로 제안된다. TFET의 대칭적인 양방성 전류(symmetric ambipolar current)와 강유전체의 minor loop 거동을 활용함으로써, 단일 FeTFET 내에서 NAND/OR/XNOR/IMP/RIMP 연산을 수행하여 높은 면적 효율의 로직-인-메모리(LiM)를 구현한다. 두 입력은 두 단계로 프로그래밍할 수 있으며, 읽기 전압(read voltage)을 단순히 변경함으로써 논리 연산의 유형을 바꿀 수 있음을 입증한다. 제안된 FeTFET 기반 RLG는 FeFET 기반 것에 비해 동작 에너지를 >99% 더 낮게 소모한다.

*본 초록은 AI를 통해 원문을 번역한 내용입니다. 정확한 내용은 하기 원문에서 확인해주세요.

키워드
Logic gateFerroelectricityElectronic engineeringMaterials scienceNMOS logicPass transistor logicResistor–transistor logicAND-OR-InvertComputer scienceElectrical engineering
타입
Article
IF / 인용수
3.2 / 1
게재 연도
2025