우리는 X-핀치에 의해 생성된 Cu 플라즈마의 매개변수를, 실험적으로 측정한 엑스선과 합성 데이터의 비교를 통해 추정한다. 여과된 절대 극자외선 다이오드 어레이(filtered absolute extreme ultraviolet diode array)를 이용하여 에너지 범위 1–10 keV에서 스펙트럼 분해능 ∼1 keV로 시간 분해 엑스선 스펙트럼을 측정한다. FLYCHK 코드를 사용하여 서로 다른 전자 온도, 전자 밀도 및 빠른 전자 분율을 갖는 Cu 플라즈마의 합성 스펙트럼을 계산한다. 측정된 스펙트럼과 정량적으로 비교하기 위해 서로 다른 스펙트럼 범위를 3개 사용한 두 가지 엑스선 전력 비를 계산한다. 전류 상승률이 ∼0.2 kA/ns인 조건에서 SNU X-핀치 상의 두 개의 Cu 와이어를 사용한 X-핀치 실험에서 세 번의 엑스선 버스트를 관측한다. 스펙트럼 분석 결과, 첫 번째 버스트는 핫 스팟과 전자 빔에서 방출된 엑스선을 포함하며, 다른 X-핀치에서 관측된 것과 유사한 특성을 보인다. 두 번째 및 세 번째 버스트는 모두 목(neck) 구조가 완전히 고갈된 이후 형성된 장시간 지속 전자 빔에 의해 생성된다. 두 번째 버스트에서는 전자 빔의 형성과 함께 배경 플라즈마의 전자 밀도가 증가한다. 따라서 장시간 지속 전자 빔은 엑스선 버스트를 추가로 강하게 생성하면서도 X-핀치의 중심 영역에 플라즈마 채널을 유지한다. 또한 이들은 다수의 하드 엑스선(HXRs)을 방출하여 SNU X-핀치를 HXR 소스로 사용할 수 있게 한다. 본 연구는 장시간 지속 전자 빔의 생성이 X-핀치의 동역학 및 강한 HXR 생성에 중요함을 확인한다.

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