시료 위치의 자유 공간에서 25°C에서 본 실험의 팔콘 튜브 PBS 용액 내부에 8.0 kV/cm의 전기장을 유도하였다. 다양한 마이크로파 방전(D) 조건에서, 집락 형성 단위(colony forming unit) 곡선을 분석하였다. 선량을 20D에서 80D로 증가시켰을 때 생존 균수 감소의 비율이 가장 높았으며, 그 결과 E. coli에서 약 6 log 감소, S. aureus에서 4 log 감소가 나타났다. 또한 주사전자현미경(scanning electron microscopy) 결과 PMR 노출 후 두 세균 균주 모두에서 표면 손상이 확인되었다. 세균의 불활성화는 산화 조절 유전자들의 불활성화와 DNA 손상에 기인한 것으로 설명된다.

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