(Ge-LLZO) 세라믹 코팅. 구조 및 표면 분석(FE-SEM/EDS, XPS, FE-TEM)은 표면에 침착된 코팅 관련 종의 존재와 코팅에 의해 유도된 표면 화학의 변화를 확인하는 한편, 벌크 XRD는 겔-세라믹 처리 후에도 적층된 LMLO 호스트 구조가 주로 유지됨을 검증하는 데 사용된다. 전기화학 시험 결과, 겔에서 유래한 Ge-LLZO 코팅은 미분용량(differential capacity) 거동, 임피던스 응답, 그리고 출력(전류) 비율 능력(rate capability) 경향으로 반영되듯이 계면 반응 동역학 및 저항 변화의 양상에 영향을 줄 수 있음을 시사한다. 또한 미세구조 관찰에서는 순환 후 나은(베어) LMLO에 비해 손상이 감소한 것으로 나타난다. 종합하면, 본 연구는 겔화 보조 증착과 겔-세라믹 전환이 LMLO 양극 상에 Ge-LLZO 표면 코팅을 구현하여 계면 반응 동역학과 저항 변화의 양상을 조절할 수 있음을 보여준다. 가혹한 4.8–2.0 V/1C 조건에서, 베어 LMLO는 약 60사이클 이후 급격한 용량 감소를 보이는 반면, 코팅된 LMLO는 100사이클까지 더 완만한 저하를 나타낸다. 강건한 장기 안정성을 위해서는 추가 최적화가 필요하다.

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