-plate는 동일하고 서로 반대인 OAM을 전달하는 좌·우 원편광 성분으로 이루어진 스핀-궤도 중첩을 형성한다. 이러한 구조화된 빔이 키랄 시료와 상호작용할 때, 두 스핀 성분은 서로 다른 감쇠를 경험하여 시료의 CD에 비례하는 내재적 강도 불균형이 발생한다. 이후 OAM sorter는 이들 성분을 공간적으로 분리함으로써 편광 변조나 순차적 획득 없이 단일 노출에서 이들의 강도비를 측정할 수 있게 한다. 분석적 유도는 두 OAM 채널의 강도에 대한 로그 비(logarithmic ratio)로부터 분광 흡광도 차이를 추출할 수 있음을 보여준다. 또한 우리는 샷 노이즈-한정 민감도를 달성하기 위한 실험적 요구사항, 교정 전략, 그리고 lock-in 검출 방식의 가능성에 대해 논의한다. 이 방법은 구조화된 빛 광자공학과 키랄광분광법을 통합하여, 공간적으로 다중화된 구조화 빔을 이용한 고속·고정밀 CD 측정을 위한 견고하고 교정 친화적이며 기하학적으로 직관적인 경로를 제공한다.

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