기본 정보
연구 분야
프로젝트
발행물
구성원
Symposia on VLSI Technology and circuits
Electrostatics and Performance Benchmarking using all types of III-V Multi-gate FinFETs for sub 7nm Technology Node Logic Application
구분
국외
국가
-
컨퍼런스명
Symposia on VLSI Technology and circuits
발표 제목
Electrostatics and Performance Benchmarking using all types of III-V Multi-gate FinFETs for sub 7nm Technology Node Logic Application
기관명
Symposia on VLSI Technology and circuits
참여 연도
2014
상세 설명
Symposia on VLSI Technology and circuits