본 논문은 듀얼 3상 인버터의 상부 및 하부에서 개별 개방 고장을 검출하기 위한 기법을 제안한다. 일반적으로 듀얼 3상 인버터에서 스위칭 소자는 고장률이 높다. 특히 스위칭 소자는 높은 스위칭 주파수와 열적, 전기적, 기계적 스트레스로 인해 고장날 수 있다. 이에 따라 제안된 방법은 측정된 상전류를 정규화하고, 가변 차단 주파수를 갖는 적분기와 HPF를 통해 고장을 검출한다. 따라서 제안된 알고리즘은 로터 속도가 변하는 정상상태 및 과도상태에서도 고장을 안정적으로 검출할 수 있다. 제안된 방법의 유효성과 유용성은 여러 차례의 실험을 통해 검증되었다.

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