본 연구에서는 c-Al2O3 기판 위에서 금속-유기 기상 에피택시로 성장시킨 ZnO 나노로드의 초기 성장 동역학을 규명하기 위해 싱크로트론 방사 X-선 회절 분석을 사용하였다. 입사각이 작은(경사 입사) 기하를 갖는 2차원 면적 검출기를 이용하여 회절 영상을 좌표 변환함으로써 투영된 역격자면 맵핑(RSM)을 구현하였다. 투영된 RSM은 ZnO와 Al2O3 사이의 다중 헤테로에피택셜 관계를 나타내며, 그중에서도 지배적인 관계는 ZnO(101̅0)∥Al2O3(21̅1̅0)이다. 회절 이미지와 θ–2θ 스캔에 대한 추가 연구를 통해 내부 응력의 변화를 확인하였다. 원자힘현미경으로 표면 토폴로지를 추정하여 성장 속도를 산출하였고, 이는 θ–2θ 회절에 대한 슈레러 방정식 분석으로 뒷받침되었다.

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