디스플레이 산업은 품질을 보장하기 위해 효율적인 검사 방법을 요구한다. 기존의 시각 기반 기술은 파괴적인 절차를 수반하며, 곡률로 인해 영상 왜곡이 발생한다. 본 연구에서는 Optical Coherence Tomography(OCT)와 3축 스테이지를 갖춘 비전 시스템을 통합한 광학 시스템을 개발하였다. 고해상도의 스펙트럴 영역 OCT(SD-OCT) 시스템은 곡면 디스플레이의 3차원 검사를 수행한다. OCT와 비전을 통합함으로써 고속의 고해상도 결함 검출을 달성하였고, 정량적 측정과 결함 판정 기준 설정이 가능해졌다. 또한 이는 곡면 디스플레이의 검사와 결함 데이터베이스 구축을 통해 생산 공정 개선에도 기여한다.

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