기본 정보
연구 분야
프로젝트
발행물
구성원
preprint|
green
·인용수 0
·2025
Robust Ensemble Method for High-Accuracy Defect Classification in Yakgwa Quality Control
Giwan Lee, Sol Kim, Seungtaek Jeong, Soo-Jung Kim, Ayoung Hong
SSRN Electronic Journal
키워드
Computer scienceControl (management)Quality (philosophy)Ensemble learningArtificial intelligencePattern recognition (psychology)Physics
타입
preprint
IF / 인용수
- / 0
게재 연도
2025