Ferroelectric HfZrO-based FeFET/FeTFET memory and synapse device research
연구 내용
HfZrO 계열 강유전체 박막의 상(phase)·누설·신뢰성 특성을 공정 변수로 제어하고 FeFET/FeTFET 구조에 반영하여 비휘발성 메모리 및 저전력 시냅스 동작을 구현하는 연구
HfZrO 계열 강유전체 박막의 강유전 특성과 전기적 신뢰성을 확보하기 위해 ALD 기반 적층 공정과 도핑/전구체 조건을 최적화합니다. 상 비율 변화와 누설 전류 저감, 절연 파괴 전압 및 반복 내구성을 함께 고려하여 FeFET 및 FeTFET의 메모리 창과 전력 특성을 개선합니다. 또한 게이트 전하 주입 구조와 채널 적층형 DRAM 셀로의 확장 설계를 통해 집적도와 동작 안정성을 연계하는 방향으로 연구를 수행합니다.
관련 연구 성과
관련 논문
3편
관련 특허
0건
관련 프로젝트
2건
연구 흐름
초기에는 HfZrO 기반 강유전체 박막에서 Zr 전구체 및 적층 구조가 상 형성과 전기적 특성에 미치는 영향을 분석하는 데 집중했습니다. 이후 Al 도핑 및 열 예산 호환 공정 조건을 확장하여 누설 저감과 장기 신뢰성, 반복 내구 특성을 체계적으로 검증했습니다. 최근에는 FeTFET 시냅스 소자 시연을 통해 저전력 동작과 학습 정확도 연동 가능성을 확인하고, 게이트 전하 주입형 메모리 어레이 및 채널 적층형 2F2 단일 트랜지스터 DRAM 셀로 집적 기술을 구체화하는 연구를 수행합니다.
활용 가능성
활용 가능성은 알앤디써클 특화 AI 에이전트가 생성한 내용으로, 실제 연구 가능 여부는 연구실과의 논의가 필요합니다.
관련 논문
구분
제목
Impact of Zr Precursor on Electrical Characteristics of HfZrO Laminated Structure
Impact of Al-Doping on Ferroelectricity and Reliability of HfZrO Film Under High Temperature Annealing
Demonstration of Ferroelectric Tunnel Field-Effect Transistor for Low Power Synapse Device
관련 프로젝트
구분
제목
수직 채널-올-어라운드 구조의 게이트 주입 강유전체 전계효과 트랜지스터 기반의 메모리 어레이 기술 개발
채널 적층형 FeFET 기반 2F2 단일 트랜지스터 디램 셀