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PCB Assembly Line의 검사데이터 기반 불량 원인 분석 및 지속가능 AI 솔루션

PCB Assembly Line inspection data-based defect cause analysis and sustainable AI solution

특허 요약

본 발명은 PCB Assembly Line의 검사데이터 기반 불량 원인 분석 및 지속가능 AI 솔루션에 관한 것으로, PCB Assembly 자동화 라인에 AI 기반 자동 생산 및 데이터 기반의 제조 프로세스를 구축하여 주요 노하우를 데이터로서 정립하고 축적하고, ICT/FCT 검사데이터에 따른 불량 유형 분류 및 불량원인을 예측하기 위해 대부분 정상으로 통과되는 현장 데이터의 Imbalanced Data 문제를 해결하기 위한 모듈을 적용하여 불량원인의 정확한 분석이 가능토록 수행하는 AI 솔루션에 관한 것이다.

청구항

번호	청구항
1	PCB Assembly Line의 검사데이터 기반으로 불량원인을 분석하는 AI 솔루션으로서,상기 PCB 어셈블리(1)의 생산(100)과 관련된 생산 데이터(101)를 획득하는 단계(S0),수집된 데이터를 AI 분석에 활용할 수 있게 데이터 가공하고Imbalanced Data를 처리할 수 있도록 모듈을 적용시켜 적응 알고리즘(104)을 생성하는 단계(S1) 상기 훈련된 적응 알고리즘(104)은 불량원인 판별 모델 학습에 활용하는 단계(S2)를 포함하는, PCB Assembly Line의 검사데이터 기반 불량 원인 분석 및 지속가능 AI 솔루션.

번호

청구항

PCB Assembly Line의 검사데이터 기반으로 불량원인을 분석하는 AI 솔루션으로서,상기 PCB 어셈블리(1)의 생산(100)과 관련된 생산 데이터(101)를 획득하는 단계(S0),수집된 데이터를 AI 분석에 활용할 수 있게 데이터 가공하고Imbalanced Data를 처리할 수 있도록 모듈을 적용시켜 적응 알고리즘(104)을 생성하는 단계(S1) 상기 훈련된 적응 알고리즘(104)은 불량원인 판별 모델 학습에 활용하는 단계(S2)를 포함하는, PCB Assembly Line의 검사데이터 기반 불량 원인 분석 및 지속가능 AI 솔루션.

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