다수의 OLED 셀이 행 방향 및 열 방향으로 배열되는 OLED 원판 내의 셀을 검사하는 시스템으로서, 상기 OLED 셀에는 신호 입력을 위한 다수의 공용 패드가 형성되고, 상기 공용 패드는, AC/DC 신호, 양극/음극 전원 및 RGB 신호가 입력되는 다수의 핀을 구비하며, 상기 OLED 셀에 대하여 점등 검사 또는 에이징 수행 검사 모드를 결정하여 명령하는 운영 단말기;상기 운영 단말기 운영 모드에 따라 셀 검사를 위한 AC/DC 신호, 양극/음극 전원 및 RGB 신호를 생성하여 제공하는 다수의 신호기;상기 공용 패드에 접촉되어 상기 신호기에서 생성된 신호를 입력하는 다수의 프로브 블록을 구비하여 횡 방향 단위로 상기 OLED 셀을 검사하는 다수의 스틱 바; 및,상기 스틱 바의 측부에 결합되어 상기 신호기에서 제공된 신호를 상기 스틱 바의 각 프로브 블록으로 분배하는 스위칭 블록;을 포함하고, 상기 스틱 바는, 적어도 상기 원판의 행 방향으로 형성되는 공용 패드의 최대 수에 대응하는 수의 프로브 블록을 구비하여, 다른 모델의 OLED 셀이 배열되는 원판에 공통으로 적용되어 점등 검사 및 에이징 수행이 가능하도록 구성되며,상기 신호기는, 일 측에 배치되어 상측 영역의 스틱 바로 신호를 제공하는 제 1 신호기 그룹과, 타 측에 배치되어 나머지 하측 영역의 스틱 바로 신호를 제공하는 제 2 신호기 그룹으로 구성되는, IT OLED의 원판 셀 검사 시스템.