피검사 디바이스의 테스트에 사용되는 테스트 소켓에 있어서,베이스 부재;상기 베이스 부재에 탑재되는 세퍼레이터 부재; 및상기 베이스 부재에 탑재되는 히트 싱크 부재;를 포함하며,상기 베이스 부재는,상기 세퍼레이터 부재가 탑재되는 제1 탑재 공간, 및상기 히트 싱크 부재가 탑재되는 제2 탑재 공간을 포함하고,상기 제1 탑재 공간과 제2 탑재 공간은 서로 연통하며,상기 제1 탑재 공간과 제2 탑재 공간은 연속되는 일 공간으로 구성되며,상기 제1 탑재 공간은,상기 베이스 부재를 상하 방향으로 관통하는 관통 공간으로 구성되며,상기 제2 탑재 공간은,상기 제1 탑재 공간의 적어도 일 측에 위치하고,상기 제2 탑재 공간은,제2-1 탑재 공간, 및 제2-2 탑재 공간을 포함하고,상기 제2-1 탑재 공간과 제2-2 탑재 공간은,상기 제1 탑재 공간을 중심으로 하여 서로 대칭되게 배치되며,상기 제2 탑재 공간은,상기 제2 탑재 공간의 적어도 일 부분이 수평 방향으로 오픈되는 오픈부를 포함하며,상기 제1 탑재 공간 내에 상기 세퍼레이터 부재가 탑재되면,상기 세퍼레이터 부재의 적어도 일 측면과 상기 베이스 부재의 내면의 적어도 일 측면 사이에는 소정의 간격이 형성되며,상기 간격을 구성하는 공간은 상기 제2 탑재 공간의 적어도 일 부분을 구성하고,상기 히트 싱크 부재는,블록 형태의 싱크 바디, 및상기 싱크 바디의 적어도 일 측에 구비되는 방열부를 포함하고,상기 방열부는,다수의 방열 핀을 포함하며,상기 히트 싱크 부재가 상기 제2 탑재 공간 내에 탑재되면 상기 방열부는 상기 오픈부에 위치하고,상기 방열부의 적어도 일 부분은 상기 오픈부를 통해서 상기 베이스 부재의 수평 방향으로 노출되고,상기 베이스 부재는,상기 베이스 부재의 4 방향 모서리 위치에 구비되는 가이드 블록을 구비하고,상기 오픈부는 상기 가이드 블록보다 아래에 위치하며,상기 히트 싱크 부재가 상기 제2 탑재 공간 내에 탑재되면 상기 방열부는 상기 가이드 블록보다 아래에 위치하는 테스트 소켓.