본 발명은, 적외선 카메라를 이용하여 불량가능성이 있는 부품들을 가려내고, 이 부품들에 대해서만 플라잉 프로브에 의한 전기적 검사를 수행함으로써, 정밀한 전기적 테스트를 가능하게 하면서도 테스트 시간을 현저히 줄일 수 있는 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법에 관한 것이다. 적외선 카메라 및 플라잉 프로브 어셈블리를 이용하여 회로보드를 테스트하는 시스템으로서, 상기 적외선 카메라를 이용하여 측정보드의 열 영상을 획득하는 카메라부; 상기 열 영상을 기초로 상기 측정보드 내의 부품들 중 열적 불량 부품을 검출해내고, 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동시키기 위한 제어신호를 출력하는 제어부; 및 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 포함하고, 상기 제어신호를 기초로 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동하여 상기 열적 불량 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력신호를 검출한 후 이를 상기 제어부로 전송하여 상기 제어부가 상기 열적 불량 부품들 중 전기적 불량 부품을 검출할 수 있도록 하는 정밀 테스트부를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법이 제공된다. 회로보드, 측정보드, 적외선 카메라, 플라잉 프로브, 열 영상