복수의 슬롯 및 상기 복수의 슬롯에 장착되는 SMU(Source Measure Unit) 보드를 탑재하며, 탑재되는 복수의 상기 SMU 보드를 직렬 또는 병렬로 접속시켜 복수 개의 채널로 확장하는 채널확장 보드;탑재되는 각각의 상기 SMU 보드에 개별적으로 전원을 공급 제어하는 전원공급 제어장치; 및상기 전원공급 제어장치에 의해 개별적으로 공급 제어되는 전원에 의해 각각의 상기 SMU 보드를 통해 측정되는 IC(Integrated Circuit) 소켓의 전압 및 전류를 분석하는 IC소켓 분석장치;를 포함하며, 각각의 상기 SMU 보드는,제1범위의 전류를 인가하기 위한 제1전류 인가부; 및상기 제1범위보다 큰 범위로 설정된 제2범위의 전류를 인가하기 위한 제2전류 인가부;를 포함하고,상기 IC소켓 분석장치는 상기 제1전류 인가부 및 상기 제2전류 인가부에 의해 인가되는 전체 전류범위에서의 채널 측정간 신호간섭 및 상호관계를 분석하여 다중채널 신호의 ISI(Inter-symbol Interference) 시뮬레이션을 수행하는 것을 특징으로 하는, IC소켓 검사용 다중채널 측정 시스템.

제1항에 있어서,상기 제1전류 인가부 또는 상기 제2전류 인가부에 의해 인가되는 전류를 안정화시키는 인가전류 안정화부;를 포함하는 것을 특징으로 하는, IC소켓 검사용 다중채널 측정 시스템.

제1항에 있어서,각각의 상기 SMU 보드는 규격화된 채널 수를 가지며, 실리콘 러버형 IC소켓 측정기술에 기반하여 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는, IC소켓 검사용 다중채널 측정 시스템.

IC소켓 검사용 다중채널 측정 시스템에 의해 수행되는 다중채널 측정방법에 있어서,복수의 SMU 보드를 직렬 또는 병렬로 연결하여 채널을 확장하는 단계;각각의 상기 SMU 보드에 전원을 공급하는 단계;각각의 상기 SMU 보드에 제1범위의 전류 또는 상기 제1범위보다 큰 범위로 설정된 제2범위의 전류를 인가하는 단계; 및각각의 상기 SMU 보드를 통해 측정되는 IC 소켓의 전압 및 전류를 분석하는 단계;를 포함하며,상기 IC소켓의 전압 및 전류를 분석하는 단계는 상기 제1범위의 전류 및 상기 제2범위의 전류를 포함하는 전체 전류범위에서의 채널 측정간 신호간섭 및 상호관계를 분석하여 다중채널 신호의 ISI(Inter-symbol Interference) 시뮬레이션을 수행하는 것을 특징으로 하는, 다중채널 측정방법.

제4항에 있어서,상기 인가되는 전류를 안정화시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 다중채널 측정방법.

제4항에 있어서,각각의 상기 SMU 보드는 규격화된 채널 수를 가지며, 실리콘 러버형 IC소켓 측정기술에 기반하여 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는, 다중채널 측정방법.