| 번호 | 청구항 |
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| 1 | 박막 트랜지스터의 하부에 형성되어 후면 광원으로부터 방출된 빛을 검출하는 광 검출부; 및상기 광 검출부로부터 흐르는 광 전류를 측정하는 광 전류 측정부를 포함하되, 상기 광 검출부는 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 접촉되는 P형 반도체층; 상기 P형 반도체층의 하부에 형성되는 진성 반도체층; 상기 진성 반도체층의 하부에 형성되는 N형 반도체층; 및 상기 N형 반도체층의 하부에 형성되는 투명전극을 포함하고, 상기 광 검출부는 상기 박막 트랜지스터의 하부의 유리기판에 매몰되어 상기 P형 반도체층이 상기 게이트 전극과 접합되며, 상기 광 전류 측정부는 상기 광 전류를 상기 박막 트랜지스터의 턴온시 게이트 전극에 흐르는 게이트 전류에서 상기 게이트 전극에 인가된 전류를 빼서 측정하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치. |
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| 3 | 제 1 항에 있어서, 상기 P형 반도체층과, 상기 진성 반도체층, 상기 N형 반도체층 및 상기 투명전극의 너비는 동일한 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치. |
| 4 | 제 1 항에 있어서, 상기 P형 반도체층과, 상기 진성 반도체층, 상기 N형 반도체층 및 상기 투명전극의 너비는 상기 게이트 전극의 너비 보다 적게 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이의 조도 측정 장치. |
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