벤치마킹 및 프로파일링 장치가 수행하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 방법에 있어서,벤치마킹툴 파라미터에 따른 제1 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계;과학응용프로그램 파라미터에 따른 제2 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계;상기 수집된 제1 프로파일링툴 성능지표 및 제2 프로파일링툴 성능지표를 이용하여 상기 벤치마킹툴 파라미터 및 상기 과학응용프로그램 파라미터를 분석하는 단계;상기 분석 결과를 이용하여 하드웨어 파라미터를 최적화하는 단계; 및상기 분석 결과를 이용하여 소프트웨어 파라미터를 최적화하는 단계를 포함하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 방법.

제1항에 있어서,상기 제1 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계는,상기 벤치마킹툴 파라미터 및 클러스터 파라미터를 변경시켜가면서 벤치마킹툴을 실행하여 상기 제1 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 것을 특징으로 하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 방법.

제1항에 있어서,상기 제2 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계는,상기 과학응용프로그램 파라미터 및 클러스터 파라미터를 변경시켜가면서 과학응용프로그램을 실행하여 상기 제2 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 것을 특징으로 하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 방법.

제1항에 있어서,상기 벤치마킹툴 파라미터 및 상기 과학응용프로그램 파라미터를 분석하는 단계는,상기 과학응용프로그램 파라미터와 가장 높은 연관도를 가지는 벤치마킹툴 파라미터를 선택하고,상기 하드웨어 파라미터를 최적화하는 단계는,상기 선택된 벤치마킹툴 파라미터를 이용하여 하드웨어 파라미터를 최적화하고,상기 소프트웨어 파라미터를 최적화하는 단계는,상기 선택된 벤치마킹툴 파라미터를 이용하여 소프트웨어 파라미터를 최적화하는 것을 특징으로 하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 방법.

고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 장치에 있어서,명령어를 저장하는 메모리; 및상기 명령어를 실행하는 프로세서를 포함하되,상기 명령어는,벤치마킹툴 파라미터에 따른 제1 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계;과학응용프로그램 파라미터에 따른 제2 프로파일링툴 성능지표를 수집하는 단계;상기 수집된 제1 프로파일링툴 성능지표 및 제2 프로파일링툴 성능지표를 이용하여 상기 벤치마킹툴 파라미터 및 상기 과학응용프로그램 파라미터를 분석하는 단계;상기 분석 결과를 이용하여 하드웨어 파라미터를 최적화하는 단계; 및상기 분석 결과를 이용하여 소프트웨어 파라미터를 최적화하는 단계를 포함하는 벤치마킹 및 프로파일링 방법을 수행하는 것을 특징으로 하는 고성능 과학응용프로그램의 입출력 성능을 개선하기 위한 시스템적 벤치마킹 및 프로파일링 장치.