| 번호 | 청구항 |
|---|---|
| 1 | 서로 마주보는 제1 전극과 제2 전극; 상기 제1 전극과 제2 전극 사이에 위치하고, 양자점을 포함하는 발광층; 및상기 제1 전극과 상기 발광층 사이에 위치하고, 금속 산화물 박막을 포함하는 전자 수송층을 포함하고,상기 금속 산화물 박막은 하기 화학식 1 또는 화학식 2 의 조성을 가지는 것을 특징으로 하는 발광소자.화학식 1[(1-x)(In2O3)-xZnO]-ySiO2 상기 화학식 1에서 0003c#x003c#1 이고, 0.03≤y003c#0.29이다.화학식 2[(1-x)(In2O3)-xSnO2]-ySiO2 상기 화학식 2에서 0003c#x003c#1 이고, 0.14≤y003c#0.54이다. |
| 2 | 제1항에 있어서,상기 금속 산화물 박막은 스퍼터링(sputtering) 공법을 통하여 형성되는 것을 특징으로 하는 발광소자. |
| 3 | 삭제 |
| 4 | 삭제 |
| 5 | 삭제 |
| 6 | 삭제 |
| 7 | 기판 상에 제1 전극을 형성하는 단계;상기 제1 전극 상에 전자 수송층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 전자 수송층을 형성하는 단계는 스퍼터링 공법으로 진행되는 것을 특징으로 하고,상기 전자 수송층은 하기 화학식 1 또는 화학식 2의 조성을 가지도록 형성되는 발광소자 제조 방법.화학식 1[(1-x)(In2O3)-xZnO]-ySiO2 상기 화학식 1에서 0003c#x003c#1 이고, 0.03≤y003c#0.29이다.화학식 2[(1-x)(In2O3)-xSnO2]-ySiO2 상기 화학식 2에서 0003c#x003c#1 이고, 0.14≤y003c#0.54이다. |
| 8 | 제7항에 있어서,상기 제1 전극을 형성하는 단계 및 상기 전자 수송층을 형성하는 단계는 스퍼터링 공법을 통한 연속 증착 공정으로 진행되는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조 방법. |
| 9 | 제7항에 있어서,상기 전자 수송층을 형성하는 단계는,In-Zn-O 타겟 및 SiO2 타겟을 이용한 스퍼터링 공법으로 진행되는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조 방법. |
| 10 | 제7항에 있어서,상기 전자 수송층을 형성하는 단계는,In-Sn-O 타겟 및 SiO2 타겟을 이용한 스퍼터링 공법으로 진행되는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조 방법. |
| 11 | 삭제 |
| 12 | 제7항에 있어서,In-Zn-Si-O 타겟 및 In-Sn-Si-O 타겟으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나의 타겟을 이용한 단일타겟 스퍼터링 공법으로 진행되는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조 방법. |
| 13 | 제7항에 있어서,상기 전자 수송층을 형성하는 단계에서는, 스퍼터링 공법을 통해 SiO2의 조성비를 조절하는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조 방법. |