표면 작용기를 갖는 금속나노입자의 표면 작용기의 길이 및 개수밀도별 표면 작용기 쉘층의 두께를 얻는 단계, 상기 표면 작용기 쉘층의 유효 유전율을 얻는 단계, 상기 쉘층의 두께, 상기 쉘층의 유효 유전율 및 상기 금속나노입자의 표면 작용기가 없는 상태의 크기별 흡수, 산란 또는 소광 스펙트럼을 측정하여 LSPR(localized surface plasmon resonance) 피크를 얻는 단계, 및 상기 표면 작용기의 길이, 개수밀도 및 나노입자의 표면 작용기가 없는 상태의 크기별 LSPR 피크 라이브러리를 구축하는 단계; 및상기 라이브러리에, 표면 작용기를 갖는 정량화 대상 금속나노입자의 표면 작용기의 길이, LSPR 피크 및 상기 금속나노입자의 표면 작용기가 없는 상태의 크기를 대입하여, 상기 정량화 대상 금속나노입자의 표면 작용기의 개수밀도를 추출하는 단계;를 포함하는, 금속나노입자의 표면 작용기 정량화 방법.

청구항 1에 있어서, 상기 표면 작용기는 단일 또는 이중가닥 핵산, 뉴클레오시드, 뉴클레오티드, 올리고뉴클레오티드, 아미노산, 펩타이드, 올리고펩타이드, 폴리펩타이드, 당, 올리고사카라이드, 폴리사카라이드, 탄수화물, 지질, 단백질, 폴리사카라이드, 저분자 화합물, 고분자 화합물 또는 유기 작용기를 포함하는 것인, 금속나노입자의 표면 작용기 정량화 방법.

삭제

삭제

청구항 1에 있어서, 상기 표면 작용기를 갖는 정량화 대상 금속나노입자의 흡수, 산란 또는 소광 스펙트럼을 측정하여 LSPR 피크를 얻는 단계를 더 포함하는, 금속나노입자의 표면 작용기 정량화 방법.

청구항 1에 있어서, 상기 표면 작용기를 갖는 정량화 대상 금속나노입자의 표면 작용기가 없는 상태의 LSPR 피크를 상기 라이브러리에 대입하여, 상기 정량화 대상 금속나노입자의 표면 작용기가 없는 상태의 크기를 얻는 단계;를 더 포함하는 금속나노입자의 표면 작용기 정량화 방법.