| 번호 | 청구항 |
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| 1 | 시료로부터 타겟 유전물질을 검출하기 위한 탐지체;상기 탐지체로부터 탐지 신호를 감지하고 타겟 유전물질 존부를 판단하는 판단부; 및탐지체에 전기장을 인가하는 방전부를 포함하고,상기 탐지체는 기재; 상기 기재의 일측 상에 제공되어 상기 타겟 유전물질의 일 측과 상보적으로 결합하는 탐지 유전물질; 상기 탐지 유전물질과 이격되어 제공되어 상기 타겟 유전물질의 타 측과 상보적으로 결합하는 신호 유전물질을 포함하고, 상기 방전부로부터 인가된 상기 전기장은 상기 탐지 유전물질 또는 상기 신호 유전물질과 상기 시료 내 마그네슘 이온(Mg2+)을 포함하는 불순물간 결합을 방지하는, 유전물질 검출 장치. |
| 2 | 제1항에 있어서,상기 방전부는상기 시료와 맞닿는 형태로 제공되는 제1 전극; 및상기 제1 전극 및 상기 시료와 이격되어 제공되는 제2 전극을 포함하고,상기 전기장은 상기 제2 전극으로부터 상기 제1 전극을 향해 인가되는, 유전물질 검출 장치. |
| 3 | 제2항에 있어서,상기 제1 전극은 평판 형상을 갖고,상기 제2 전극은 상기 제1 전극을 향하는 탐침 형태로 제공되는, 유전물질 검출 장치. |
| 4 | 제1항에 있어서,상기 탐지 유전물질 및 상기 신호 유전물질 중 적어도 하나는 상기 타겟 유전물질과 상보적으로 결합하는 영역과 이격된 영역에 제공된 형광체를 포함하는, 유전물질 검출 장치. |
| 5 | 제4항에 있어서,상기 형광체는 양자점을 포함하는, 유전물질 검출 장치. |
| 6 | 제4항에 있어서,상기 탐지 유전물질 상에는 제1 형광체가 제공되고,상기 신호 유전물질 상에는 상기 제1 형광체와 상이한 제2 형광체가 제공되는, 유전물질 검출 장치. |
| 7 | 제1항에 있어서,상기 탐지 유전물질, 상기 신호 유전물질, 및 상기 타겟 유전물질은 DNA인, 유전물질 검출 장치. |
| 8 | 제1항에 있어서,상기 기재는 자성을 갖는 입자를 포함하는, 유전물질 검출 장치. |
| 9 | 삭제 |
| 10 | 타겟 유전물질을 포함하는 시료를 준비하는 제1 단계;상기 시료와 탐지체를 혼합하면서 상기 시료와 상기 탐지체 상에 전기장을 인가하는 제2 단계;상기 탐지체 및 상기 타겟 유전물질을 상기 시료로부터 분리하고 상기 탐지체 및 상기 타겟 유전물질로부터 제공되는 탐지 신호를 확인하는 제3 단계를 포함하고,상기 전기장은 상기 탐지체와 상기 시료 내 마그네슘 이온(Mg2+)을 포함하는 불순물이 결합하는 것을 방지하는, 유전물질 검출 방법. |
| 11 | 제10항에 있어서,상기 탐지체는 기재;상기 기재의 일측 상에 제공되어 상기 타겟 유전물질의 일 측과 상보적으로 결합하는 탐지 유전물질;상기 탐지 유전물질과 이격되어 제공되어 상기 타겟 유전물질의 타 측과 상보적으로 결합하는 신호 유전물질을 포함하고,상기 제2 단계에서 상기 타겟 유전물질은 상기 탐지 유전물질 및 상기 신호 유전물질과 결합하는, 유전물질 검출 방법. |
| 12 | 제11항에 있어서,상기 탐지 유전물질에는 제1 형광체가 제공되고,상기 신호 유전물질에는 상기 제1 형광체와 상이한 제2 형광체가 제공되고,상기 제3 단계에서 상기 제1 형광체에 의해 발생된 제1 파장 대역의 신호의 크기와 상기 제2 형광체에 의해 발생된 제2 파장 대역의 신호의 크기를 비교하는, 유전물질 검출 방법. |
| 13 | 제11항에 있어서,상기 기재는 자성을 갖는 입자를 포함하고,상기 제3 단계에서 상기 시료에 자기장을 인가하여 상기 탐지체 및 상기 타겟 유전물질을 상기 시료로부터 분리하는, 유전물질 검출 방법. |
| 14 | 제11항에 있어서,상기 탐지 유전물질, 상기 신호 유전물질, 및 상기 타겟 유전물질은 DNA인, 유전물질 검출 방법. |
| 15 | 제10항에 있어서,상기 제2 단계에서 1kV 내지 4kV의 전압을 인가함으로써 상기 전기장을 형성하는, 유전물질 검출 방법. |
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