본 논문에서는 반복학습제어(ILC)에서 방사선 유발 소프트 오류가 미치는 영향을 연구하고, 소프트 오류에 대해 ILC 시스템이 견고하도록 하기 위한 보상 기법을 제시한다. 소프트 오류는 일시적으로 메모리에서 발생하는 전이성 결함으로, 에너지 입자가 트랜지스터의 민감 영역을 주로 고방사선, 고온, 고압과 같은 비정상 조건에서 타격할 때 발생한다. 이러한 소프트 오류는 컨트롤러에 대한 어떠한 통지 없이 비트 값 변화를 일으키고, 시스템의 안정성에 영향을 주며, 치명적인 결과를 초래할 수 있다. 먼저, 우리는 ILC 시스템에서 소프트 오류의 영향을 조사하고 분석한다. 분석 연구에 따르면, ILC의 출력 데이터에서 단일 소프트 오류가 발생하면 학습 제어의 성능이 크게 저하된다. 둘째, 우리는 소프트 오류로 인한 부정확한 출력을 보상하기 위해 ILC에서 시스템 추상화 수준 전반에 걸쳐 기존 기법들을 통합하여 새로운 학습 방법을 제안한다. 소프트 오류의 발생은 교차 계층 방식으로 오류 출력의 단조 수렴을 이용하여 추정하며, 제안한 방법은 시스템 성능에 대한 이러한 부정적 영향을 유의미하게 감소시킬 수 있다. 소프트 오류 발생이라는 가정을 전제로, 본 분석 연구는 ILC 시스템에서 제안 방법들의 수렴성을 증명하였고, 시뮬레이션 결과는 ILC 시스템에서 소프트 오류 유발 출력이 미치는 영향을 효율적으로 줄이기 위한 제안 방법의 유효성을 보여준다.

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