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기본 정보
연구 분야
프로젝트
발행물
구성원
Design and Test in Europe
저전력을 위한 DCT 에서의 입력 bit-width 변화
구분
국외
국가
독일
컨퍼런스명
Design and Test in Europe
발표 제목
저전력을 위한 DCT 에서의 입력 bit-width 변화
기관명
IEEE, ACM
참여 연도
2006
상세 설명
IEEE, ACM
