연속적 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM) 스케일링은 향상된 정정 능력을 갖춘 온다이 오류 정정 코드(ECC)를 필요로 할 수 있지만, 결함 경계(fault bounding) 방식이 적용된 이중 오류 정정 코드에 대해서는 탐구되지 않았다. 본 고에서는 DDR5 듀얼 인라인 메모리 모듈(DIMM)에 사용되는 듀얼 데이터 레이트(four) 방식의 단일 기호 오류 정정 시스템 ECC와의 호환성을 개선하는 결함 경계 온다이 보스–차우두리–호크엠(Bose–Chaudhuri–Hocquenghem, BCH) 코드를 제시한다. BCH 코드의 H 행렬을 수정함으로써, 제안된 복호화 방법은 버스트 오류가 발생하는 결함 경계를 판정하여 이러한 오류가 결함 경계를 넘어 확산되는 것을 효과적으로 차단한다. 경계된(bounded) 전송률을 기존 코드와 비교한 결과, 시스템 ECC와의 향상된 호환성이 확인된다. 제안 코드의 인코더와 디코더는 하드웨어 비용을 입증하기 위해 28-nm CMOS 공정으로 구현되었다.

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