고신뢰 및 고속컴퓨팅 연구실은 미래 메모리 소자의 신뢰성 연구를 중점으로 하고 있습니다. 이 연구는 다양한 환경 조건에서 메모리 소자의 성능과 신뢰성을 평가합니다. 고온, 저온, 방사선 등의 극한 환경에서 메모리 소자가 어떻게 작동하는지를 분석하며, 이를 통해 메모리 소자의 내구성을 극대화하는 방법을 모색합니다. 특히, DDR4와 같은 최신 메모리 기술에 대한 깊이 있는 분석과 테스트를 통해 반도체 소자의 신뢰성을 높이는 데 주력하고 있습니다.

고신뢰 및 고속컴퓨팅 연구실은 자연 및 우주 방사선이 반도체 소자에 미치는 영향을 연구하고 있습니다. 서울, 경주, 대전, 캐나다, 스웨덴, 미국 등 다양한 장소에서 방사선 테스트를 실시하여, 각 지역의 방사선 조건이 반도체 소자에 미치는 영향을 분석합니다. 이를 통해 방사선 환경에서도 안정적으로 작동할 수 있는 반도체 소자의 개발에 기여하고 있습니다. 또한, 방사선으로 인한 반도체 소자의 오류를 최소화하는 방법을 연구하여, 고신뢰성 반도체 소자의 개발을 위한 기반을 마련하고 있습니다.