광학 필름의 산란 특성을 분석하기 위해 확산판(diffuser plate)을 사용하는 정확하고 사용이 간편한 3차원 측정 방법을 제안한다. 광학 필름에 의해 산란된 빛의 원거리장(far-field) 방사 패턴은 해당 빛이 확산판(diffuser plate)에 형성하는 조도 패턴으로부터 얻는다. 수학적 모델과 교정(calibration) 방법을 기술하였으며, 그 결과를 휘도계(luminance meter)를 이용한 직접 측정에서 얻은 결과와 비교하였다. 새 방법은 산란 편광자(scattering polarizer) 필름의 산란에 따른 편광 의존적 3차원 특성을 매우 정밀하게 제공하였고, 3D 디스플레이 응용을 위한 고성능 편광 선택적 스크린을 개발하는 데 효과적인 역할을 할 수 있다.